Helium ionenmicroscopie is een nieuwe en uiterst nauwkeurige techniek voor oppervlaktekarakterisering. De microscoop maakt het mogelijk het oppervlak van (sub)nanometerstructuren rechtstreeks te bekijken en te analyseren. Het instrument is beschikbaar voor de wetenschappelijke gemeenschap en voor commerciële gebruikers. De nieuwe microscooptechniek SHIM werkt met Heliumionen. Deze zijn veel zwaarder en
worden daardoor niet zo snel versmeerd. Dat maakt scherpere beelden mogelijk en geeft gedetailleerde informatie over de samenstelling van de bovenste laag van het
monster.
Meer weten?
Wil je meer informatie over de inhoud van het dossier of in contact worden gebracht met de kennisaanbieder? Neem dan contact met ons op.